部位 |
内容 |
手法 |
概要 |
分析例 |
正極/負極/活物質 |
結晶構造、配向、サイズ |
XRD |
X線の回折現象により、サンプル構成成分の同定や定量分析を行います。 |
順次掲載予定 |
組成分析 |
ICP-MS |
液体をプラズマによってイオン化させ、質量分析計に導入し元素の同定、定量分析を行います。固体サンプルは溶媒に溶かして分析します。 |
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LA-ICP-MS |
レーザーにより試料を微粒子化し、ICP-MSを行います。固体試料を直接導入可能です。 |
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TG |
加熱または冷却した際の、サンプルの質量と温度(または時間)の相関を測定します。 |
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EPMA |
構成元素のマッピングを行います。異物や成分偏析の調査などに用いられます。 |
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XRF |
サンプル構成元素の定性・定量分析を行います。短時間で分析できるため、インライン検査にも用いられます。 |
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構造解析 |
断面FE-SEM |
サンプルを断面方向から観察、分析します。スライス像から3D化することも可能です。 |
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STEM-EELS |
正負極構造の拡大観察とともに、EELSで原子価数を分析し、結合状態の変化を評価します。 |
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SPM(AFM) |
電極表層の力学特性の評価や、導電パスの可視化を行います。 |
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ナノインデンター |
薄膜や微小部位の硬さ、弾性率を測定します。また、動的粘弾性や密着性なども評価できます。 |
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水銀圧入法 |
サンプルの空隙やカーボン担体の細孔のサイズと頻度を分析します。 |
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窒素吸着法 |
サンプルの空隙分析で、水銀圧入法よりも微細な空隙測定に向いています。 |
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状態解析 |
TOF-SIMS |
他の分析手法では難しい、Liの高感度検出が可能です。 |
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Cs-STEM |
原子レベルの分解能を誇ります。Liサイトの可視化等に有効です。 |
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AES |
SEM像と連動できるため、3元系材料(Co, Mn, Ni)の分布などを明瞭に確認できます。 |
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XPS |
表面被膜(SEI膜)の状態分析や電極材の組成分析を行います。 |
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HAXPES |
通常のXPSよりも深層まで状態評価が可能です。 |
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XAFS |
元素の定量分析および元素の価数変化を評価できます。 |
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NMR |
負極表面に析出したLi金属の量を分析します。 |
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EBSD |
電極の結晶方位を解析します。 |
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バインダー |
バインダー、増粘剤 |
FT-IR |
樹脂成分の同定を行います。 |
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熱分解GC-MS |
熱分解生成物の解析により、樹脂成分を特定します。 |
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GD-OES |
電極の深さ方向Li濃度分布を可視化します。 |
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ラマン分光 |
ラマンイメージングにより、バインダーと活物質の分散状態を評価します。 |
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NMR |
組成分析を行います。 |
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セパレータ |
組成分析 |
FT-IR |
セパレータ組成を調査します。配向分布のマッピングも可能です。 |
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DSC |
熱による融解、変質などを評価します。 |
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構造解析 |
表面/断面SEM |
セパレータの微細構造を観察します。 |
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ラマン分光 |
劣化部位のマッピングが可能です。 |
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水銀圧入法 |
空隙のサイズ、分布を測定します。 |
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窒素吸着法 |
水銀圧入法よりも小さなサイズの空隙のサイズ、分布を測定します。 |
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正極端子 負極端子 |
組成分析 |
表面/断面SEM-EDX |
母材や表面処理などの組成分析を行います。 |
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構造解析 |
TEM-EDX/EELS |
表面処理や表面酸化被膜の組成、構造解析を行います。 |
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機械強度評価 |
引張試験 |
溶接強度などを評価します。 |
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電解液溶媒 |
主成分・不純物・変成物 |
GC-MS |
溶媒や添加剤成分の同定および経時での消費量を把握できます。 |
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NMR |
変性物の同定を行います。 |
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カールフィッシャー |
水分量を高精度に測定します。 |
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添加剤 |
成分分析 |
IC |
イオン成分を分析します。 |
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GC-MS |
組成比や分解物を評価します。 |
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